品質部用冷熱循環試驗箱適用于電子電器零組件、通訊組件、自動化零部件、汽車配件、化學材料、金屬、塑膠等行業、航天、國防工業、BGA、兵工業、PCB基扳、電子芯片IC、半導體陶磁及高分子材料之物對高、低溫的反復抵拉力及產品處于熱脹冷縮的物理環境產出的化學變化或物理傷害，可確認各種產品的品質,從精密的IC到重機械的組件，無一不需要它,目前此設備是工業產業共認的理想測試工具。

品質部用冷熱循環試驗箱執行標準：

GB/T 10592-2008 高低溫試驗箱技術條件；

GB/T 2423.1-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗A：低溫 (IEC 60068-2-1:2007, IDT)；

GB/T 2423.2-2008 電工電子產品環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗B：高溫 (IEC 60068-2-2:2007, IDT)；

GB/T 2423.22-2012 環境試驗 第2部分：試驗方法 試驗N：溫度變化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT)；

GJB 150.3-86 設備環境試驗方法 第3部分 高溫試驗；

GJB/T 150.4-86 設備環境試驗方法 第4部分 低溫試驗；

GJB/T 150.5-86 設備環境試驗方法 第5部分 溫度沖擊試驗。

技術參數:

1.內箱尺寸：W400mm*H500mm*D400mm(柳沁可根據顧客需要做出更多合適尺寸的設備）。

2.外箱尺寸：以實際尺寸為標準。

3.高溫槽預熱溫度范圍：+60℃～200℃。

4.升溫時間： +60℃～200℃≤30min。

5.低溫槽預冷溫度范圍： -75～-10℃。

6.降溫時間： +20℃～-75℃≤60min；﹙注：降溫時間為低溫槽單獨運轉時的性能）。

7.試驗方式： 氣動風門切換。

8.溫度沖擊范圍： ﹙+60℃～+150℃﹚/﹙-65℃～-10℃﹚ 。

9.溫度波動度： ±0.5℃ 。

10.溫度偏差： ±2.0℃ 。

11.溫度恢復時間： ≤5分鐘。

12.試樣限制：本實驗設備禁止易爆、易燃、易揮發性物質試樣的試驗或儲存；腐蝕性物質試樣的試驗或儲存。