XRD檢測-熒光樣品中微量相的測定
微量相的測試一直是各種分析手段所關(guān)注的重點(diǎn)之一，XRD測試也不例外。一般情況下， 提高X射線功率或是增加測試時(shí)間（兩者等效），相當(dāng)于降低了噪音，可以在一定程度上降低檢出限。但對于有些特殊的復(fù)雜樣品，則無法得到好的效果。我們知道，當(dāng)用Cu靶X射線測試含有Fe、Co、Ni等元素的樣品時(shí)，會有很強(qiáng)的熒光，導(dǎo)致XRD圖譜背景非常高，此時(shí)如果樣品中含有微量相，那么微量相的微弱信號則淹沒在在高背景中（圖1）。這類樣品*主要的是降低背景，進(jìn)而降低檢出限，檢出微量相。配備高性能能量分辨探測器的XRD很好的解決了背景問題，從本質(zhì)上降低了檢出限。
實(shí)例 Fe中含有微量的ZnO相
圖1 過高的背景導(dǎo)致微量ZnO相無法檢出；增加測試時(shí)間或是提高功率，都無法改變實(shí)質(zhì)問題。
圖2 背景降低后，弱峰出現(xiàn)，微量ZnO相檢出
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